影響漆膜儀測量數(shù)據(jù)不準的原因

　　每一種漆膜儀器都有一個臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的;

　　基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同的位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點，或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對儀器的零點;

　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重干擾磁性測厚工作;

　　探頭會使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數(shù)據(jù);

　　妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質(zhì)，必須清除，在測量中，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直，才能達到精確的測量。

　　磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;

　　基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān),應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。