覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質(zhì)量檢測*的較重要工序。是產(chǎn)品達到標準的*手段。目前，國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要。
 有關(guān)覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
 X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。
電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應(yīng)用 。
磁性測量法及渦流測量法，隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微處理機技術(shù)后，測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm，精度可達到1％。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用較廣泛的儀器。超聲波物位計,超聲波液位計,超聲波測厚儀。